• 产品简介

  • P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的白光共聚焦技术可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品,不收材料形状及颜色的限制

  • 产品特性

  • 测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率

  • 测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接

  • 可测样品的最大坡度:87oC

  • 测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品

  • 不受环境光的影响

  • 不受样品反射率与形状的影响

  • 操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪

  • 主要技术参数

  • 扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm)

  • 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm)

  • Z方向测量范围:300μm

  • Z方向测量分辨率:8nm

  • Z方向测量精度:60nm

  • 横向光学分辨率:2.6μm

  • 产品应用

  • MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发

粗糙度测量仪P3

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