• 产品简介
    ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,并具有多种选项,包含360°旋转工作台,原子力显微镜模块,光学显微镜,特征区域定位等多种功能模块。
    产品特性
    采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率
    测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高
    测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
    尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
    不受样品反射率的影响
    不受环境光的影响
    测量简单,样品无需特殊处理
    Z方向,测量范围大:为27mm
    主要技术参数
    扫描范围:150mm×150mm(最大可选600mm*600mm)
    扫描步长:0.1μm
    扫描速度:20mm/s
    Z方向测量范围:27mm
    方向测量分辨率:2nm
    产品应用
    MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发。

  • 主要用于

  • --大尺寸样品三维形貌测试的理想选择

  • --容易升级,多种测试模块可选



ST400型三维表面形貌仪

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