• 产品简介
    PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
    产品特性
    采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率
    测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高
    测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
    尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
    不受环境光的影响
    测量简单,样品无需特殊处理
    Z方向,测量范围大:为27mm
    主要技术参数
    扫描范围:50×50(mm)
    扫描步长:0.1μm
    扫描速度:20mm/s
    Z方向测量范围:27mm
    Z方向测量分辨率:2nm
    产品应用
    MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

  • 主要用于

  • --性价比高,适合科研单位 

  • --取代传统的探针式形貌仪及干涉式形貌仪



PS50型三维表面形貌仪

本网站由阿里云提供云计算及安全服务